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浮区晶体生长装置

LT-FZ-CG-3000
最高加热温度:≥ 3000℃腔体真空度:≤ 5×10⁻³ Pa腔体耐压:≥ 10 atm实验环境:真空、O₂、Ar、N₂晶体直径:≤ 6 mm晶体长度:≤ 100 mm生长速率:0.5–10 mm/h 可调应用:功能氧化物、半导体及金属单晶的生长
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  • 最高加热温度:≥ 3000℃

  • 腔体真空度:≤ 5×10⁻³ Pa

  • 腔体耐压:≥ 10 atm

  • 实验环境:真空、O₂、Ar、N₂

  • 晶体直径:≤ 6 mm

  • 晶体长度:≤ 100 mm

  • 生长速率:0.5–10 mm/h 可调

  • 应用:功能氧化物、半导体及金属单晶的生长